更新時(shí)間：2024-06-16
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| 品牌 | 其他品牌 | 貨號(hào) | 123 |
|---|---|---|---|
| 規(guī)格 | CSG-14-50-GH-J6 | 供貨周期 | 一個(gè)月以上 |
| 主要用途 | 機(jī)械設(shè)備 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
| 名稱 | 哈默納科 | 用途 | 半導(dǎo)體、機(jī)器人、機(jī)械設(shè)備 |
| 材質(zhì) | 鋼 | 是否進(jìn)口 | 是 |
基準(zhǔn)為該基準(zhǔn)實(shí)際要素的理想要素，理想要素的位置應(yīng)符合小條件。測(cè)量時(shí)體現(xiàn)基準(zhǔn)的方法有模擬法、直接法、分析法和目標(biāo)法，
C2)平晶干涉法平晶干涉法是用平晶表面作為理想平面哈默納科平晶干涉諧波CSG-14-50-GH-J6，當(dāng)其貼在被測(cè)的狹窄表面上時(shí)，由于被測(cè)表面輪廓不平，因而通過(guò)平晶，可以看到干涉條紋。由干涉條紋的彎曲及條紋的間距可以確定該表面對(duì)平晶表面的變動(dòng)量，從而確定表面輪廓的直線度誤差。
2.被測(cè)直線的直接測(cè)量方法
C1)平板〔平尺)測(cè)微儀法這種方法是以標(biāo)準(zhǔn)平板或平尺作為理想要素，用百分表或千分表等測(cè)微指示器來(lái)測(cè)量被測(cè)直線輪廓上各點(diǎn)相對(duì)平板或平尺的變動(dòng)量，從而得到該輪廓的實(shí)測(cè)曲線〔由測(cè)點(diǎn)的離散測(cè)得值體現(xiàn))，這種方法也俗稱為“打表法"。
用平板及指示表測(cè)量任意方向直線度誤差示意圖。被測(cè)對(duì)象哈默納科平晶干涉諧波CSG-14-50-GH-J6是圓柱體的軸線。測(cè)量時(shí)，被測(cè)圓柱體安裝在有精密分度裝置的尖間，兩尖軸線與平板平行。將工件回轉(zhuǎn)一周，并依次在不同的回轉(zhuǎn)角度〔通常等間距)處測(cè)量截面輪廓圓的半徑差，以此可計(jì)算〔根據(jù)要求，可用小區(qū)域法、小二乘法
